傳統(tǒng)回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中存在的弊端及改進(jìn)方案
點(diǎn)擊次數(shù):733 更新時(shí)間:2023-03-24
目前市場(chǎng)上大部分回路電阻測(cè)試儀原理是采用典型的四線制測(cè)量法,由高頻開關(guān)電源提供大于100A的測(cè)試電流,按下測(cè)量鍵時(shí),高頻開關(guān)電源輸出大于100A以上的測(cè)試電流,同時(shí)采樣電路開始采樣,取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大,由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后,再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理,zui后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。并可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線或接觸不良時(shí),儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開路?;芈冯娮铚y(cè)試儀采用全新電源技術(shù),具有測(cè)量迅速、體積小巧、使用方便、測(cè)量精度高等特點(diǎn),是測(cè)量變壓器繞組以及大功率電感設(shè)備直流電阻的理想設(shè)備。
1、現(xiàn)有測(cè)試方法存在的弊端
按照常規(guī)設(shè)計(jì)原理設(shè)計(jì)的回路電阻測(cè)試儀在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn),都普遍存在一個(gè)問(wèn)題:當(dāng)測(cè)試儀電壓接線回路出現(xiàn)接觸不良或開路時(shí),測(cè)試儀還會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值,此時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下幾種情況:
1)電壓回路開路,測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾,這種情況下,由于放大器輸入的差模電壓基本為0,故儀器顯示的測(cè)試數(shù)值接近為0,如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn),可以判斷出是儀器電壓回路測(cè)試線異常,將儀器電壓回路測(cè)試線異常排除后,可以得出zui終正確測(cè)試結(jié)果;如果測(cè)試人員沒(méi)有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn),有可能會(huì)誤判測(cè)試儀出現(xiàn)問(wèn)題,中斷測(cè)試,更換或返修儀器,延誤停電時(shí)間,給測(cè)試工作帶來(lái)不必要的麻煩。
2)電壓回路接觸不良,大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜,當(dāng)回路電阻儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良,既電壓測(cè)試線鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻,該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí),將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。
3)電壓回路開路或接觸不良(開路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大),測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾,如母線帶電,此時(shí)帶電母線通過(guò)以空氣為介質(zhì)的電容,干擾測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線,由于干擾的作用使回路測(cè)試儀電壓采集線兩端出現(xiàn)差模電壓。
如果干擾較大,會(huì)使回路電阻測(cè)試儀顯示出比被試品電阻值大的多的數(shù)值,此時(shí)如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)也許能夠判斷出測(cè)試結(jié)果的異常,能夠引起注意并zui終得到正確測(cè)試結(jié)果。但如果測(cè)試人員沒(méi)有足夠的經(jīng)驗(yàn)可能會(huì)誤判開關(guān)回路電阻值超標(biāo),可能會(huì)采用停電檢修的方法處理缺陷,給電力生產(chǎn)造成不必要的損失。
如果干擾的強(qiáng)度不是很大,儀器顯示值正好在斷路器的合格阻值范圍之內(nèi),該情形與情況“2)電壓回路接觸不良”產(chǎn)生的結(jié)果相同,同樣會(huì)造成誤判。
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